Article Dans Une Revue
European Physical Journal: Applied Physics
Année : 2004
Ims Import : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00181974
Soumis le : mercredi 24 octobre 2007-17:28:09
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00181974 , version 1
Citer
Hassene Mnif, Thomas Zimmer, Jean Luc Battaglia, Sébastien Fregonese. Analysis and modeling of the self-heating effect in SiGe HBTs. European Physical Journal: Applied Physics, 2004, 25, pp.1. ⟨hal-00181974⟩
Collections
53
Consultations
0
Téléchargements