Behavioral studyof passive components and coating materials under isostatic pressure and temperature stress conditions - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2002

Behavioral studyof passive components and coating materials under isostatic pressure and temperature stress conditions

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Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00181931

Soumis le : mercredi 24 octobre 2007-16:46:44

Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25

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Dates et versions

hal-00181931 , version 1 (24-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00181931 , version 1

Citer

Bernard Tregon, Yves Ousten, Yves Danto, Laurent Bechou, B. Parmentier. Behavioral studyof passive components and coating materials under isostatic pressure and temperature stress conditions. Microelectronics Reliability, 2002, 1, pp.1113-1120. ⟨hal-00181931⟩

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