Scanning laser ultrasonics experiments for in-situ non-destructive analysis of integrated circuits - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Device and Materials Reliability Année : 2005
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00181926 , version 1 (24-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00181926 , version 1

Citer

Grégory Andriamonje, Vincent Pouget, Yves Ousten, Dean Lewis, Bernard Plano, et al.. Scanning laser ultrasonics experiments for in-situ non-destructive analysis of integrated circuits. IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 2005, 1, pp.1. ⟨hal-00181926⟩
73 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More