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Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2005

Failure mechanisms and qualification testing of passive components

Ha Post
  • Fonction : Auteur
P. Letullier
  • Fonction : Auteur
T. Briolat
  • Fonction : Auteur
R. Humke
  • Fonction : Auteur
R. Schuhmann
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K. Saarinen
  • Fonction : Auteur
W. Werner
  • Fonction : Auteur
G. Lekens
  • Fonction : Auteur
A. Dehbi
  • Fonction : Auteur
W. Wondrak
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00181925 , version 1 (24-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00181925 , version 1

Citer

Ha Post, P. Letullier, T. Briolat, R. Humke, R. Schuhmann, et al.. Failure mechanisms and qualification testing of passive components. Microelectronics Reliability, 2005, 1, pp.1. ⟨hal-00181925⟩
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