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Communication Dans Un Congrès Année : 2004

Modélisation comportementale de la fiabilité des circuits intégrés complexes

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00181918 , version 1 (24-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00181918 , version 1

Citer

François Marc, Benoit Mongellaz, Yves Danto. Modélisation comportementale de la fiabilité des circuits intégrés complexes. RTP Fiabilité, 2004, France. ⟨hal-00181918⟩
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