Communication Dans Un Congrès
Année : 2004
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https://hal.science/hal-00181918
Soumis le : mercredi 24 octobre 2007-16:41:30
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00181918 , version 1
Citer
François Marc, Benoit Mongellaz, Yves Danto. Modélisation comportementale de la fiabilité des circuits intégrés complexes. RTP Fiabilité, 2004, France. ⟨hal-00181918⟩
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