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Communication Dans Un Congrès Année : 1994

Les besoins du test interne pour la localisation de défauts

François Marc
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00181908 , version 1 (24-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00181908 , version 1

Citer

François Marc. Les besoins du test interne pour la localisation de défauts. S.E.E. Cercle thématique 21-70 - Localisation des défauts sur circuits intégrés, 1994, France. pp.1. ⟨hal-00181908⟩
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