Communication Dans Un Congrès
Année : 2004
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https://hal.science/hal-00181900
Soumis le : mercredi 24 octobre 2007-16:33:23
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00181900 , version 1
Citer
Benoit Mongellaz, François Marc, Yves Danto. CMOS transistor electrical ageing experiments to build VHDL-AMS behavioral models. IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 2004, 2004, United States. pp.1. ⟨hal-00181900⟩
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