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Communication Dans Un Congrès Année : 2006

La simulation de l'usure des circuits intégrés analogique : prise en compte de l'interaction fonction, profil de misssion, circuit

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00181894 , version 1 (24-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00181894 , version 1

Citer

François Marc, Corinne Bestory, Herve Levi, Yves Danto. La simulation de l'usure des circuits intégrés analogique : prise en compte de l'interaction fonction, profil de misssion, circuit. ANADEF2006, 2006, France. pp.1. ⟨hal-00181894⟩
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