Article Dans Une Revue
Microelectronic Engineering
Année : 1995
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https://hal.science/hal-00181885
Soumis le : mercredi 24 octobre 2007-16:26:33
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00181885 , version 1
Citer
François Marc, Hélène Fremont, Paul Jounet, M. Barre, Yves Danto. A general methodology using an electron beam tester applied to failure localization inside a logic integrated circuit. Microelectronic Engineering, 1995, 26, pp.181-193. ⟨hal-00181885⟩
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