Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2002
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https://hal.science/hal-00181804
Soumis le : mercredi 24 octobre 2007-15:44:48
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00181804 , version 1
Citer
Benoit Mongellaz, François Marc, Noëlle Lewis, Yves Danto. Contribution to ageing simulation of complex analogue circuit using VHDL-AMS behavioural modelling language. Microelectronics Reliability, 2002, 42, pp.1. ⟨hal-00181804⟩
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