Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2003
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https://hal.science/hal-00181803
Soumis le : mercredi 24 octobre 2007-15:44:47
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00181803 , version 1
Citer
Benoit Mongellaz, François Marc, Yves Danto. Ageing simulation of MOSFET circuit using a VHDL-AMS behavioural modelling: An experimental case study. Microelectronics Reliability, 2003, 43, pp.1. ⟨hal-00181803⟩
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