Improvement of Aging Simulation of Electronic Circuits Using Behavioral Modeling - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Device and Materials Reliability Année : 2006
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00181801 , version 1 (24-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00181801 , version 1

Citer

François Marc, Benoit Mongellaz, Corinne Bestory, Herve Levi, Yves Danto. Improvement of Aging Simulation of Electronic Circuits Using Behavioral Modeling. IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 2006, 1, pp.228-234. ⟨hal-00181801⟩
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