Failure mechanisms of Trench IGBT under various short-circuit conditions - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2007
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00180627 , version 1 (19-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00180627 , version 1

Citer

Adel Benmansour, Stephane Azzopardi, Jean-Christophe Martin, Eric Woirgard. Failure mechanisms of Trench IGBT under various short-circuit conditions. IEEE Power Electronics Specialists Conference, Jun 2007, Orlando, United States. pp.CD. ⟨hal-00180627⟩
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