A Robust 130nm-CMOS Built-In Current Sensor Dedicated to RF applications - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications Année : 2007
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00180613 , version 1 (19-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00180613 , version 1

Citer

M. Cimino, H. Lapuyade, M. de Matos, Thierry Taris, Y. Deval, et al.. A Robust 130nm-CMOS Built-In Current Sensor Dedicated to RF applications. Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2007, pp. 593-603. ⟨hal-00180613⟩
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