Article Dans Une Revue
Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications
Année : 2007
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https://hal.science/hal-00180613
Soumis le : vendredi 19 octobre 2007-15:39:55
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00180613 , version 1
Citer
M. Cimino, H. Lapuyade, M. de Matos, Thierry Taris, Y. Deval, et al.. A Robust 130nm-CMOS Built-In Current Sensor Dedicated to RF applications. Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2007, pp. 593-603. ⟨hal-00180613⟩
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