Article Dans Une Revue
Measurement - Journal of the International Measurement Confederation (IMEKO)
Année : 2007
Dominique Dallet : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00180585
Soumis le : vendredi 19 octobre 2007-15:12:16
Dernière modification le : mardi 27 février 2024-10:26:04
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00180585 , version 1
Citer
Daniel Belega, Dominique Dallet. Dynamic testing of A/D converters by means of the three-parameter sine-fit algorithm. Measurement - Journal of the International Measurement Confederation (IMEKO), 2007, 40 (1), pp.1-7. ⟨hal-00180585⟩
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