Monitoring fading rate of ultracapacitors using online characterization during power cycling - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2007

Monitoring fading rate of ultracapacitors using online characterization during power cycling

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique Energie électrique

Olivier Briat  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00180190

Soumis le : jeudi 18 octobre 2007-09:42:00

Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00180190 , version 1 (18-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00180190 , version 1

Citer

Walid Lajnef, Jean-Michel Vinassa, Olivier Briat, Hassane El Brouji, Eric Woirgard. Monitoring fading rate of ultracapacitors using online characterization during power cycling. Microelectronics Reliability, 2007, 47, pp.1751-1755. ⟨hal-00180190⟩

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