Reliability Analysis of Lead-Free BGA Assemblies Linking FE Simulations and Experimental Results - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2005
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00179928 , version 1 (17-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00179928 , version 1

Citer

Alexandrine Guédon-Gracia, Pascal Roux, Eric Woirgard, Christian Zardini. Reliability Analysis of Lead-Free BGA Assemblies Linking FE Simulations and Experimental Results. EuroSime, Apr 2005, Germany. ⟨hal-00179928⟩
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