Sequential environmental stresses tests qualification for automotive components - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2007

Sequential environmental stresses tests qualification for automotive components

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00179915 , version 1 (17-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00179915 , version 1

Citer

M.A. Bahi, P. Lécuyer, Hélène Null Fremont, J.P. Landesman. Sequential environmental stresses tests qualification for automotive components. Microelectronics Reliability, 2007, 47 (9-11), pp.1680-1684. ⟨hal-00179915⟩
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