Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2007
Hélène Fremont : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00179915
Soumis le : mercredi 17 octobre 2007-10:02:46
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:12
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00179915 , version 1
Citer
M.A. Bahi, P. Lécuyer, Hélène Null Fremont, J.P. Landesman. Sequential environmental stresses tests qualification for automotive components. Microelectronics Reliability, 2007, 47 (9-11), pp.1680-1684. ⟨hal-00179915⟩
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