Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2007
Hélène Fremont : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00179911
Soumis le : mercredi 17 octobre 2007-09:55:48
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00179911 , version 1
Citer
W.C. Maia Filho, M. Brizoux, Hélène Null Fremont, Y. Danto. Torsion test applied for reballing and solder paste volume evaluation. Microelectronics Reliability, 2007, 47, pp.1663-1667. ⟨hal-00179911⟩
Collections
41
Consultations
0
Téléchargements