Influence of the thermo-mechanical residual state on the power assembly modellization - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2004
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Dates et versions

hal-00179907 , version 1 (17-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00179907 , version 1

Citer

Alexandrine Guédon-Gracia, Eric Woirgard, Christian Zardini, Pascal Roux. Influence of the thermo-mechanical residual state on the power assembly modellization. Microelectronics Reliability, 2004, 44, pp.1331-1335. ⟨hal-00179907⟩
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