Article Dans Une Revue
Journal of Applied Crystallography
Année : 2007
Nathalie Bonneval : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00170057
Soumis le : jeudi 6 septembre 2007-09:59:34
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:12
Citer
A. van Der Lee, F. Salah, B. Harzallah. "A comparison of modern data analysis methods for X-Ray and neutron specular reflectivity data". Journal of Applied Crystallography, 2007, 40, pp.820-833. ⟨10.1107/S0021889807032207⟩. ⟨hal-00170057⟩
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