Communication Dans Un Congrès
Année : 2007
Hélène Fremont : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00167712
Soumis le : mercredi 22 août 2007-14:18:20
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00167712 , version 1
Citer
Wilson Carlos Maia Filho, M. Brizoux, Hélène Null Fremont, Yves Danto. Reliability test method overview to characterize second level interconnects. IEEE EuroSimE, Apr 2007, London, United Kingdom. pp.0. ⟨hal-00167712⟩
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