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Communication Dans Un Congrès Année : 2007

Reliability test method overview to characterize second level interconnects

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00167712 , version 1 (22-08-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00167712 , version 1

Citer

Wilson Carlos Maia Filho, M. Brizoux, Hélène Null Fremont, Yves Danto. Reliability test method overview to characterize second level interconnects. IEEE EuroSimE, Apr 2007, London, United Kingdom. pp.0. ⟨hal-00167712⟩
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