The Use Impedance Spectroscopy, SEM and SAM Imaging for Early Detection of Failure in SMT Assemblies - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 1998

The Use Impedance Spectroscopy, SEM and SAM Imaging for Early Detection of Failure in SMT Assemblies

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Yannick Deshayes  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00164931

Soumis le : mardi 24 juillet 2007-12:19:28

Dernière modification le : vendredi 9 février 2024-10:37:00

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Dates et versions

hal-00164931 , version 1 (24-07-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00164931 , version 1

Citer

Y. Ousten, S. Medji, A. Fenech, J. Y. Deletage, L. Bechou, et al.. The Use Impedance Spectroscopy, SEM and SAM Imaging for Early Detection of Failure in SMT Assemblies. Microelectronics Reliability, 1998, 38, pp. 1539-1545. ⟨hal-00164931⟩

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