Nondestructive detection and localization of defects in multilayer ceramic chip capacitors using electromechanical resonances - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Quality and Reliability Engineering International Année : 1996

Nondestructive detection and localization of defects in multilayer ceramic chip capacitors using electromechanical resonances

Domaines

Acoustique [physics.class-ph] Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Yannick Deshayes  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00164916

Soumis le : mardi 24 juillet 2007-12:00:31

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00164916 , version 1 (24-07-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00164916 , version 1

Citer

L. Bechou, S. Mejdi, Y. Ousten, Y. Danto. Nondestructive detection and localization of defects in multilayer ceramic chip capacitors using electromechanical resonances. Quality and Reliability Engineering International, 1996, 12, pp.43-53. ⟨hal-00164916⟩

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