Chapitre D'ouvrage
Année : 2006
Nathalie Bonneval : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00162710
Soumis le : lundi 16 juillet 2007-09:10:43
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:12
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00162710 , version 1
Citer
A. van Der Lee. "Principes de base de réflectométrie X et application à l'analyse de porosité". A. AYRAL, V. ROUESSAC. Techniques innovantes pour la caractérisation optique microstructurale de couches minces, CNRS, pp.73-98, 2006. ⟨hal-00162710⟩
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