"Principes de base de réflectométrie X et application à l'analyse de porosité" - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Chapitre D'ouvrage Année : 2006

"Principes de base de réflectométrie X et application à l'analyse de porosité"

A. van Der Lee
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00162710 , version 1 (16-07-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00162710 , version 1

Citer

A. van Der Lee. "Principes de base de réflectométrie X et application à l'analyse de porosité". A. AYRAL, V. ROUESSAC. Techniques innovantes pour la caractérisation optique microstructurale de couches minces, CNRS, pp.73-98, 2006. ⟨hal-00162710⟩
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