Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2006
Olivier Briat : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00161309
Soumis le : mardi 10 juillet 2007-14:35:07
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00161309 , version 1
Citer
Olivier Briat, Walid Lajnef, Jean-Michel Vinassa, Eric Woirgard. Power cycling tests for accelerated ageing of ultracapacitors. Microelectronics Reliability, 2006, 46, pp.1445-1450. ⟨hal-00161309⟩
Collections
60
Consultations
0
Téléchargements