Power cycling tests for accelerated ageing of ultracapacitors - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2006

Power cycling tests for accelerated ageing of ultracapacitors

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00161309 , version 1 (10-07-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00161309 , version 1

Citer

Olivier Briat, Walid Lajnef, Jean-Michel Vinassa, Eric Woirgard. Power cycling tests for accelerated ageing of ultracapacitors. Microelectronics Reliability, 2006, 46, pp.1445-1450. ⟨hal-00161309⟩
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