Porosity of supported thin films and membranes studied by ellipsometric porosimetry
Résumé
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Communication Dans Un Congrès
Année : 2006
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https://hal.science/hal-00161226
Soumis le : mardi 10 juillet 2007-11:32:43
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:12
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00161226 , version 1
Citer
V. Rouessac. Porosity of supported thin films and membranes studied by ellipsometric porosimetry. Workshop on Scattering and X-Ray spectroscopy Characterization Techniques for Membranes and Porous Materials, Jun 2006, Lillehammer, Norway. ⟨hal-00161226⟩
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