X-ray diffraction from perfect silicon crystals distorted by surface acoustic waves - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Journal of Applied Crystallography Année : 2000

X-ray diffraction from perfect silicon crystals distorted by surface acoustic waves

R. Tucoulou
  • Fonction : Auteur
R. Pascal
  • Fonction : Auteur
M. Brunel
  • Fonction : Auteur
O. Mathon
  • Fonction : Auteur
D.V. Roshchupkin
  • Fonction : Auteur
I.A. Schelokov
  • Fonction : Auteur
Eric Cattan
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
Denis Remiens

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https://hal.science/hal-00158555

Soumis le : vendredi 29 juin 2007-09:59:08

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00158555 , version 1 (29-06-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00158555 , version 1

Citer

R. Tucoulou, R. Pascal, M. Brunel, O. Mathon, D.V. Roshchupkin, et al.. X-ray diffraction from perfect silicon crystals distorted by surface acoustic waves. Journal of Applied Crystallography, 2000, 33, pp.1019-1022. ⟨hal-00158555⟩

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