Article Dans Une Revue
Integrated Ferroelectrics
Année : 2000
Collection IEMN : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00158553
Soumis le : vendredi 29 juin 2007-09:59:06
Dernière modification le : vendredi 26 avril 2024-03:30:14
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00158553 , version 1
Citer
X. Lansiaux, El Hadj Dogheche, Denis Remiens. Lithium niobate thick films grown by RF sputtering : correlation between optical analysis and transmission electron microscopy observations. Integrated Ferroelectrics, 2000, 31, pp.105-116. ⟨hal-00158553⟩
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