Article Dans Une Revue
Applied Physics Letters
Année : 2000
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https://hal.science/hal-00158542
Soumis le : vendredi 29 juin 2007-09:48:26
Dernière modification le : vendredi 26 avril 2024-03:30:06
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00158542 , version 1
Citer
T. Haccart, Eric Cattan, Denis Remiens, S. Hiboux, P. Muralt. Evaluation of niobium effects on the longitudinal piezoelectric coefficients of Pb(Zr, Ti)O-3 thin films. Applied Physics Letters, 2000, 76, pp.3292-3294. ⟨hal-00158542⟩
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