Communication Dans Un Congrès
Année : 2000
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https://hal.science/hal-00157893
Soumis le : mercredi 27 juin 2007-11:34:09
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00157893 , version 1
Citer
M. Goffioul, Gilles Dambrine, D. Vanhoenacker, J.P. Raskin. Comparison of microwave performances for fully and partially depleted sub-quarter micron SOI MOSFETs. Proceedings of the 5th Symposium on Diagnostics and Yield : SOI-Materials, Devices and Characterization, D&Y'2000, 2000, Warsaw, Poland. ⟨hal-00157893⟩
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