Comparison of microwave performances for fully and partially depleted sub-quarter micron SOI MOSFETs - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2000

Comparison of microwave performances for fully and partially depleted sub-quarter micron SOI MOSFETs

M. Goffioul
  • Fonction : Auteur
D. Vanhoenacker
  • Fonction : Auteur
J.P. Raskin
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00157893 , version 1 (27-06-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00157893 , version 1

Citer

M. Goffioul, Gilles Dambrine, D. Vanhoenacker, J.P. Raskin. Comparison of microwave performances for fully and partially depleted sub-quarter micron SOI MOSFETs. Proceedings of the 5th Symposium on Diagnostics and Yield : SOI-Materials, Devices and Characterization, D&Y'2000, 2000, Warsaw, Poland. ⟨hal-00157893⟩
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