Communication Dans Un Congrès
Année : 2004
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https://hal.science/hal-00154887
Soumis le : vendredi 15 juin 2007-07:37:55
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00154887 , version 1
Citer
S. Delcourt, Gilles Dambrine, Nour Eddine Bourzgui, Sylvie Lepilliet, C. Laporte, et al.. On-wafer high frequency noise power measurements under cryogenic conditions : a new de-embedding approach [HEMT example]. 2004, pp.913-916. ⟨hal-00154887⟩
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