Article Dans Une Revue
Integrated Ferroelectrics
Année : 2002
Collection IEMN : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00149626
Soumis le : lundi 28 mai 2007-09:54:19
Dernière modification le : vendredi 26 avril 2024-03:30:28
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00149626 , version 1
Citer
D. Jenkins, W. Clegg, X. Liu, E. Fribourg-Blanc, Eric Cattan. Characterization of mems devices using a polarisation interferometer. Integrated Ferroelectrics, 2002, 50, pp.91-99. ⟨hal-00149626⟩
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