Etude numérique et expérimentale de l'évolution du taux d'erreurs binaires au passage dans un régénérateur optique - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2004

Etude numérique et expérimentale de l'évolution du taux d'erreurs binaires au passage dans un régénérateur optique

Résumé

L'évolution du taux d'erreurs binaires (TEB) après N passages dans un régénérateur optique 3R est étudié dans ce papier. Il est montré expérimentalement à 10 Gbit/s que le TEB évolue linéairement en fonction du nombre de passages dans le régénérateur. Nous avons également mis en évidence que le facteur Q ne permet plus d'évaluer le TEB après plusieurs passages dans un régénérateur.
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00149488 , version 1 (25-05-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00149488 , version 1

Citer

Laurent Bramerie, Mathilde Gay, Gwenaëlle Girault, Vincent Roncin, Sylvain Fève, et al.. Etude numérique et expérimentale de l'évolution du taux d'erreurs binaires au passage dans un régénérateur optique. 23èmes Journées Nationales d'Optique Guidée (JNOG 2004) [ http://www.comelec.enst.fr/jnog2004/ ], Oct 2004, Paris, France. pp.324-326. ⟨hal-00149488⟩
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