In-depth Investigation of Hf-based High-k Dielectrics as Storage Layer of Charge-Trap
J. Buckley
,
Marc Bocquet
,
G. Molas
,
M. Gely
,
P. Brianceau
,
N. Rochat
,
E. Martinez
,
F. Martin
,
H. Grampeix
,
J.P. Colonna
,
V. Vidal
,
Cédric Leroux
,
G. Ghibaudo
(1)
,
G. Pananakakis
(1)
,
C. Bongiorno
,
D. Corso
,
S. Lombardo
,
B. Desalvo
J. Buckley
- Fonction : Auteur
- PersonId : 1271410
- IdHAL : julien-buckley
- ORCID : 0000-0003-0082-9903
Marc Bocquet
- Fonction : Auteur
- PersonId : 18361
- IdHAL : bocquetm
- ORCID : 0000-0003-3777-5793
- IdRef : 145856739
G. Molas
- Fonction : Auteur
M. Gely
- Fonction : Auteur
P. Brianceau
- Fonction : Auteur
N. Rochat
- Fonction : Auteur
E. Martinez
- Fonction : Auteur
- PersonId : 1287023
- IdHAL : eugenie-martinez
- ORCID : 0000-0003-0889-2237
F. Martin
- Fonction : Auteur
H. Grampeix
- Fonction : Auteur
J.P. Colonna
- Fonction : Auteur
V. Vidal
- Fonction : Auteur
Cédric Leroux
- Fonction : Auteur
G. Ghibaudo
- Fonction : Auteur
- PersonId : 170596
- IdHAL : gerard-ghibaudo
- ORCID : 0000-0001-9901-0679
- IdRef : 069253099
G. Pananakakis
- Fonction : Auteur
- PersonId : 172242
- IdHAL : georges-pananakakis
- IdRef : 076673588
C. Bongiorno
- Fonction : Auteur
D. Corso
- Fonction : Auteur
S. Lombardo
- Fonction : Auteur
B. Desalvo
- Fonction : Auteur