Communication Dans Un Congrès
Année : 2006
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https://hal.science/hal-00146654
Soumis le : mardi 15 mai 2007-11:06:24
Dernière modification le : vendredi 12 décembre 2025-16:30:35
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00146654 , version 1
Citer
M. Ferrier, R. Clerc, L. Lucci, Gérard Ghibaudo, A. Vandooren, et al.. Saturation Drain Current analytical modeling of Single Gate Fully Depleted SOI or SON MOSFETs in the Quasi Ballistic Regime of Transport. 2006 IEEE International SOI Conference, 2006, Niagara Falls, United States. pp.XX. ⟨hal-00146654⟩
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