M-line spectroscopy for optical analysis of thick LiNbO3 layers grown on sapphire substrates by radio-frequency multistep sputtering
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Journal of Applied Physics
Année : 2003
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Soumis le : vendredi 27 mai 2022-11:32:19
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Archivage à long terme le : mardi 30 août 2022-10:01:23
Citer
El Hadj Dogheche, X. Lansiaux, Denis Remiens. M-line spectroscopy for optical analysis of thick LiNbO3 layers grown on sapphire substrates by radio-frequency multistep sputtering. Journal of Applied Physics, 2003, 93 (2), pp.1165-1168. ⟨10.1063/1.1530367⟩. ⟨hal-00146473⟩
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