About the measurements of the d33 piezoelectric coefficient of the PZT film-Si/SiO2/Ti/Pt substrates using an optical cryostat - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Ferroelectrics Année : 2003

About the measurements of the d33 piezoelectric coefficient of the PZT film-Si/SiO2/Ti/Pt substrates using an optical cryostat

J. Nosek
  • Fonction : Auteur
L. Burianova
  • Fonction : Auteur
M. Sulc
  • Fonction : Auteur
Caroline Soyer
Denis Remiens
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00146464 , version 1 (15-05-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00146464 , version 1

Citer

J. Nosek, L. Burianova, M. Sulc, Caroline Soyer, Eric Cattan, et al.. About the measurements of the d33 piezoelectric coefficient of the PZT film-Si/SiO2/Ti/Pt substrates using an optical cryostat. Ferroelectrics, 2003, 292, pp.103-109. ⟨hal-00146464⟩
32 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More