Communication Dans Un Congrès
Année : 2003
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https://hal.science/hal-00146457
Soumis le : mardi 15 mai 2007-09:16:17
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00146457 , version 1
Citer
L. Buchaillot. Feedback of MEMS reliability study on the design stage : a step toward reliability aided design (RAD). 14th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, ESREF 2003, 2003, Arcachon, France. ⟨hal-00146457⟩
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