Communication Dans Un Congrès
Année : 2003
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https://hal.science/hal-00146001
Soumis le : lundi 14 mai 2007-09:34:07
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00146001 , version 1
Citer
Gilles Dambrine, C. Raynaud, M. Vanmackelberg, Francois Danneville, G. Pailloncy, et al.. Impact of down scaling on high frequency noise performance of bulk and SOI MOSFETs. SPIE Fluctuations and Noise Symposium, Noise in Devices and Circuits, 2003, Sante Fe, NM, United States. ⟨hal-00146001⟩
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