Caractérisation d'interface de hétérojonctions a-Si:H/c-Si par spectroscopie de capacité sous polarisation directe - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

Caractérisation d'interface de hétérojonctions a-Si:H/c-Si par spectroscopie de capacité sous polarisation directe

A.S. Gudovskikh
  • Fonction : Auteur
J.P. Kleider
CV
J. Damon-Lacoste
  • Fonction : Auteur
Pere Roca I Cabarrocas
Y. Veschetti
  • Fonction : Auteur
Institut d'Electronique du Solide et des Systèmes
P.J. Ribeyron
  • Fonction : Auteur

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https://hal.science/hal-00142664

Soumis le : vendredi 20 avril 2007-13:54:43

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00142664 , version 1 (20-04-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00142664 , version 1

Citer

A.S. Gudovskikh, J.P. Kleider, J. Damon-Lacoste, Pere Roca I Cabarrocas, Y. Veschetti, et al.. Caractérisation d'interface de hétérojonctions a-Si:H/c-Si par spectroscopie de capacité sous polarisation directe. Nov 2005, Actes pp. 75. ⟨hal-00142664⟩

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