Communication Dans Un Congrès
Année : 2004
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https://hal.science/hal-00142307
Soumis le : mercredi 18 avril 2007-11:15:07
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00142307 , version 1
Citer
M. Elkhou, Michel Rousseau, H. Gerard, Jean-Claude de Jaeger. Physical analysis of the breakdown phenomenon between single or double step gate recess HEMTs. 2004, pp.571-574. ⟨hal-00142307⟩
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