Communication Dans Un Congrès
Année : 2004
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https://hal.science/hal-00141206
Soumis le : jeudi 12 avril 2007-09:40:16
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00141206 , version 1
Citer
B. Capoen, V.L. Quang, S. Turrell, Jean-Pierre Vilcot, F. Beclin, et al.. Structural and optical characterization of InSb-doped Si02 thin films. 5th Symposium on SiO2, Advanced Dielectrics and Related Devices, 2004, Chamonix, France. ⟨hal-00141206⟩
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