Structural and optical characterization of InSb-doped Si02 thin films - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2004

Structural and optical characterization of InSb-doped Si02 thin films

B. Capoen
V.L. Quang
  • Fonction : Auteur
S. Turrell
  • Fonction : Auteur
F. Beclin
  • Fonction : Auteur
Y. Jestin
  • Fonction : Auteur
M. Bouazaoui
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00141206 , version 1 (12-04-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00141206 , version 1

Citer

B. Capoen, V.L. Quang, S. Turrell, Jean-Pierre Vilcot, F. Beclin, et al.. Structural and optical characterization of InSb-doped Si02 thin films. 5th Symposium on SiO2, Advanced Dielectrics and Related Devices, 2004, Chamonix, France. ⟨hal-00141206⟩
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