Monitoring of the polymorphous/silicon interface properties in the HIT solar cell by surface photovoltage technique in an expanded spectral region - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2004

Monitoring of the polymorphous/silicon interface properties in the HIT solar cell by surface photovoltage technique in an expanded spectral region

V. Svrcek
  • Fonction : Auteur
Institut d'Electronique du Solide et des Systèmes
Y. Veschetti
  • Fonction : Auteur
Institut d'Electronique du Solide et des Systèmes
J.C. Muller
  • Fonction : Auteur
Institut d'Electronique du Solide et des Systèmes
A.S. Gudovskikh
  • Fonction : Auteur
J.P. Kleider
CV
J. Damon-Lacoste
  • Fonction : Auteur
Pere Roca I Cabarrocas
C. Jaussaud
  • Fonction : Auteur
P.J. Ribeyron
  • Fonction : Auteur

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https://hal.science/hal-00134576

Soumis le : vendredi 2 mars 2007-16:01:39

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00134576 , version 1 (02-03-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00134576 , version 1

Citer

V. Svrcek, Y. Veschetti, J.C. Muller, A.S. Gudovskikh, J.P. Kleider, et al.. Monitoring of the polymorphous/silicon interface properties in the HIT solar cell by surface photovoltage technique in an expanded spectral region. 2004, Proc. Vol. 2 pp. 1445-1448. ⟨hal-00134576⟩

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