Millimeter wave nondestructive techniques and artificial neural networks for near-field characterization of embedded defects - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

Millimeter wave nondestructive techniques and artificial neural networks for near-field characterization of embedded defects

M. Maazi
  • Fonction : Auteur
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
D. Glay
T. Lasri
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 751883
  • IdHAL : tuami-lasri

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https://hal.science/hal-00131124

Soumis le : jeudi 15 février 2007-11:35:39

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00131124 , version 1 (15-02-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00131124 , version 1

Citer

M. Maazi, D. Glay, T. Lasri. Millimeter wave nondestructive techniques and artificial neural networks for near-field characterization of embedded defects. Proceedings of the 2nd International Conference on Electromagnetic Near-Field Characterization and Imaging, ICONIC 2005, 2005, Barcelona, Spain. ⟨hal-00131124⟩

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