Evidence of traps creation in GaN/AlGaN/GaN HEMTs after a 3000 hours on-state and off-state hot-electron stress
A. Sozza
,
C. Dua
,
E. Morvan
,
M.A. Poisson
,
S. Delage
,
F. Rampazzo
,
A. Tazzoli
,
F. Danesin
,
G. Meneghesso
,
E. Zanoni
,
A. Curutchet
,
N. Malbert
,
N. Labat
,
B. Grimbert
(1)
,
Jean-Claude de Jaeger
A. Sozza
- Fonction : Auteur
C. Dua
- Fonction : Auteur
E. Morvan
- Fonction : Auteur
M.A. Poisson
- Fonction : Auteur
S. Delage
- Fonction : Auteur
F. Rampazzo
- Fonction : Auteur
A. Tazzoli
- Fonction : Auteur
F. Danesin
- Fonction : Auteur
G. Meneghesso
- Fonction : Auteur
E. Zanoni
- Fonction : Auteur
A. Curutchet
- Fonction : Auteur
N. Malbert
- Fonction : Auteur
N. Labat
- Fonction : Auteur
B. Grimbert
- Fonction : Auteur
- PersonId : 745508
- IdHAL : bertrand-grimbert
Jean-Claude de Jaeger
- Fonction : Auteur
- PersonId : 747322
- IdHAL : jean-claude-dejaeger