Article Dans Une Revue
Journal of the American Chemical Society
Année : 2005
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https://hal.science/hal-00125385
Soumis le : vendredi 19 janvier 2007-11:40:58
Dernière modification le : lundi 11 mars 2024-17:46:22
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00125385 , version 1
Citer
X. Wallart, C. Henry de Villeneuve, P. Allongue. Truly quantitative XPS characterization of organic monolayers on silicon : study of alkyl and alkoxy monolayers on H-Si(111). Journal of the American Chemical Society, 2005, 127, pp.7871. ⟨hal-00125385⟩
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