Influence of the film thickness on texture, residual stresses and cracking behaviour of PVD tungsten coatings deposited on a ductile substrate
Résumé
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Communication Dans Un Congrès
Année : 2000
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https://hal.science/hal-00117812
Soumis le : dimanche 3 décembre 2006-18:27:58
Dernière modification le : mardi 27 août 2024-12:40:09
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Identifiants
- HAL Id : hal-00117812 , version 1
Citer
T. Ganne, G. Farges, Jérôme Crépin, R. M. Pradeilles-Duval, A. Zaoui. Influence of the film thickness on texture, residual stresses and cracking behaviour of PVD tungsten coatings deposited on a ductile substrate. Symp. on Mechanical Properties of Structural Films ASTM, Orlando, USA, 2000, United States. ⟨hal-00117812⟩
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